產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
Element美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺(tái)
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
主動(dòng)隔振臺(tái)ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
P170全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
P7晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
納米團(tuán)簇束流沉積系統(tǒng)
Profilm 3D經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測樣
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價(jià)比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心晶圓檢測
自由曲面三維面型檢測儀 自由曲面光學(xué)元件應(yīng)用于智能車載顯示、AR 顯示、手機(jī)鏡頭、激光顯示、照明、 光刻等前沿領(lǐng)域，自由曲面三維面型檢測儀，能夠非接觸測量光學(xué)鏡面元件的三維面型數(shù)據(jù)，開展三維輪廓分析和三維誤差比對(duì)，并生成包含多項(xiàng)面型誤差指標(biāo)的測量報(bào)告。 從產(chǎn)品研發(fā)到生產(chǎn)過程及質(zhì)量控制，這款獨(dú)立的系統(tǒng)可用于開展光學(xué)設(shè)計(jì)、加工與檢測的前端研發(fā)設(shè)計(jì)過程、智能生產(chǎn)過程和后端質(zhì)量檢測過程。
更新時(shí)間：2025-09-17
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：2463
晶圓翹曲應(yīng)力測量儀具備三維翹曲（平整度）及薄膜應(yīng)力的檢測功能，適用于半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)、半導(dǎo)體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)
更新時(shí)間：2025-09-26產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：2327
Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測儀 具備化合物晶圓內(nèi)應(yīng)力分布測量及缺陷篩查等檢測功能
更新時(shí)間：2025-09-18產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：2432