產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索:
美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
主動隔振臺ARISTT
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)
iNano高精度臺式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
納米團簇束流沉積系統(tǒng)
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
Profilm 3D經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀 可測樣
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
當前位置:首頁
產(chǎn)品中心
掃描探針顯微鏡
Solver LS

產(chǎn)品簡介
Solver LS不僅是一種用于科學(xué)研究領(lǐng)域的*解決方案,同時也可用于工業(yè)檢測。使用這種采用*技術(shù)的工具,您可以在直徑250毫米(300mm可選)高度15mm的范圍內(nèi)研究和控制您的樣品(基片)。集成在上的自動定位平臺和光學(xué)觀察系統(tǒng),可以讓您在樣品表面任意的選擇感興趣的區(qū)域,并且可以精確定位和自動掃描。正因為有著如此豐富的長處,使得它的應(yīng)用領(lǐng)域幾乎是無止境的。